未來光學(xué)影像測量儀的發(fā)展趨勢

 

    近年來，隨著制造業(yè)的快速發(fā)展和需求，促進了測量儀器行業(yè)的發(fā)展。影像測量技術(shù)，從接觸式測量轉(zhuǎn)變?yōu)榉墙佑|式的光學(xué)影像測量儀；測量精度從0.01mm 達到0.001mm，甚至0.0005mm 等；測量效率從簡單的手動發(fā)展到全自動化高速測量；測量范圍從普通的機械加工測量發(fā)展到目前電路板、液晶板等微型化、小型化檢測。光機電一體化、集成化技術(shù)的發(fā)展越來越完善，非接觸式光學(xué)影像式測量已成為測量儀器業(yè)的發(fā)展趨勢。

 

現(xiàn)代光學(xué)影像測量儀器的技術(shù)特征

 

    現(xiàn)代測量儀器已從過去的機械式測量發(fā)展到目前的光機電一體化高度集成的非接觸式光學(xué)影像測量技術(shù)。與傳統(tǒng)的測量儀器比較，非接觸式光學(xué)影像式測量儀器主要有以下幾個主要特征：

 

    1 測量方式多樣性：非接觸式光學(xué)影像測量。傳統(tǒng)的測量方式為機械式游標卡尺、千分尺測量；現(xiàn)代的測量方式越來越多樣化，如激光掃描、光學(xué)影像測量等，尤其是光學(xué)影像式測量在近年得到了推廣和應(yīng)用。利用傳感器技術(shù)、電子技術(shù)、軟件、光學(xué)CCD 成像等綜合性學(xué)科技術(shù)，對所測產(chǎn)品進行圖像處理分析、檢測，有效的解決了人為因素對產(chǎn)品造成的不確定影響，提高了檢測的準確度。

 

    2 高精密測量：精度由傳統(tǒng)毫米級、微米級向納米級邁進，測量精度等級得到了質(zhì)的提高。傳統(tǒng)的檢測方法，主要使用鋼板尺、游標卡尺和千分尺等常用檢測器具對所測物品進行測量，測量精度只能達到毫米、最多微米等級，測量精度低下，已不能滿足現(xiàn)代化機械裝備制造業(yè)的發(fā)展需求。非接觸式光學(xué)影像測量，通過科學(xué)的圖像處理分析計算方法，精度等級可以達到微米、納米級精度，提高了檢測的精度等級，為制造業(yè)的發(fā)展提供了可靠的保證。

 

    3 高效率檢測：全自動大批量檢測。傳統(tǒng)的檢測方式都是手動、單件的檢測，如果遇到大批量生產(chǎn)，要求全檢等，就會造成檢測效率低下，而且增加更多的人為不確定因素。非接觸式光學(xué)影像測量，通過全自動伺服控制，加上配備合理的工裝驗具將極大的提高檢測的效率和準確度，每分鐘可檢測幾個、幾十個甚至更多的產(chǎn)品，特別適合大批量生產(chǎn)和檢測。

 

    4 測量范圍的多樣性：同一儀器可檢測長度、角度和圓度等多種元素。傳統(tǒng)的檢測驗具主要檢測長度尺寸，如鋼板尺、游標卡尺和千分尺等，對于圓度、角度等的檢測又得更換其他專用的檢測量具；非接觸光學(xué)影像測量儀器，可同時檢測長度、角度、圓度等多種元素，一職多責(zé)，滿足客戶全方位檢測需求。

 

    光機電一體化技術(shù)已經(jīng)滲透到各個學(xué)科、領(lǐng)域，成為一種新興的學(xué)科，并逐漸成為一種產(chǎn)業(yè)，而這些產(chǎn)業(yè)作為新的經(jīng)濟增長點越來越受到高度重視。

 

    從世界科學(xué)技術(shù)的發(fā)展來看，光機電一體化技術(shù)集為一體的全自動高精密光學(xué)影像測量儀除了本身具有的非接觸式測量、高精度、高效率和測量范圍廣泛外，未來的發(fā)展熱點還包括：模塊化、在線化、集成化。億輝光電，專業(yè)生產(chǎn)影像測量儀等精密光學(xué)儀器。