納米測試技術(shù)  從出產(chǎn)制造的趨勢看，每十年要求容許誤差降低1／3，因此要求丈量具有越來越高的精度，并可溯源到國際尺度(ISO)。 

丈量尺寸繼承向著兩個極端發(fā)展      所謂兩個極端就是指相對于現(xiàn)在丈量尺寸的大尺寸和小尺寸。    

 

 

近年來，因為國民經(jīng)濟的快速發(fā)展和迫切需要，使得良多方面的出產(chǎn)和工程中測試的要求超過了我們所能測試的范圍，如飛機形狀的測量、大型機械樞紐部件丈量、高層建筑電梯導軌的準直測量、油罐車的現(xiàn)場校準等都要求能進行大尺寸測量；微電子技術(shù)、生物技術(shù)的快速發(fā)展，探索物質(zhì)微觀世界的需求，測量精度的不斷進步，又要求進行微米、納米測試。通常尺寸的測量已被廣為留意，也開發(fā)了多種多樣的測試方法。當然，納米測量也多種多樣，有光干涉測量儀、量子干涉儀、電容測微儀、X射線干涉儀、頻率跟蹤式法珀尺度量具、掃描電子顯微鏡(SEM)、掃描地道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、分子測量機等。      

 

大尺寸的測量方法  如工程大地測量方法是指將大地測量的某些原理和方法移植和改進到機械工程丈量中，產(chǎn)生新的測量方法，還有其它一些測量大尺寸的方法，如激光跟蹤干涉三維尺寸測量系統(tǒng)。