影像測(cè)量?jī)x使用過(guò)程中相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
時(shí)間:2015-06-10 08:24:46 來(lái)源:本站 作者:admin
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影像測(cè)量?jī)x使用過(guò)程中相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
1、環(huán)境條件
不論是3D影像測(cè)量?jī)x，2D影像測(cè)量?jī)x還是2.5D影像測(cè)量?jī)x，在驗(yàn)收和使用時(shí)，至少應(yīng)對(duì)下列影響影像測(cè)量?jī)x準(zhǔn)確度的環(huán)境條件參數(shù)加以控制：
——儀器測(cè)量室的溫度、單位時(shí)間內(nèi)的溫度變化及相對(duì)濕度；
——儀器在測(cè)量室平衡溫度的時(shí)間；
——儀器與標(biāo)準(zhǔn)器具的溫度差等。
上述條件參數(shù)：驗(yàn)收檢測(cè)由制造商規(guī)定；復(fù)檢檢測(cè)由用戶規(guī)定。用戶可在給定的范圍內(nèi)隨意選擇環(huán)境條件。
影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量室內(nèi)應(yīng)無(wú)影響測(cè)量的灰塵、噪音、震動(dòng)、腐蝕性氣體和較強(qiáng)磁場(chǎng)。
注：當(dāng)檢測(cè)條件不滿足供應(yīng)商給定的條件時(shí)，供應(yīng)商可能給出更大的允許誤差。特別注意：
a)儀器啟動(dòng)／預(yù)熱循環(huán)；
b)測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)定；
c) 影像系統(tǒng)放大倍數(shù)；
d) 照明。
2、影像測(cè)量?jī)x性能要求
本標(biāo)準(zhǔn)允許各種影像測(cè)量?jī)x有其自己的功能定義，因此也允許在檢測(cè)參數(shù)的選擇上有某些靈活性。各項(xiàng)性能要求：
——驗(yàn)收檢測(cè)由制造商規(guī)定；
——復(fù)檢檢測(cè)由用戶規(guī)定。
長(zhǎng)度測(cè)量示值誤差、截面原點(diǎn)一致性誤差
1)對(duì)在垂直于平面直角坐標(biāo)系Z方向上具有測(cè)量功能的影像測(cè)量?jī)x，下列性能要求不應(yīng)超過(guò)其最大允許誤差：
2)對(duì)在垂直于平面直角坐標(biāo)系Z方向上具有定位功能的影像測(cè)量?jī)x和只能在任何二維平面內(nèi)作測(cè)量的影像測(cè)量?jī)x，下列性能要求不應(yīng)超過(guò)其最大允許誤差：
3)上述性能要求的誤差及其最大允許誤差用微米表示。
探測(cè)誤差。探測(cè)誤差EP2D的檢測(cè)應(yīng)當(dāng)包括機(jī)器運(yùn)動(dòng)和視場(chǎng)的整個(gè)可用部分；探測(cè)誤差EP2D不應(yīng)超過(guò)探測(cè)誤差的最大允許誤差，探測(cè)誤差和其最大允許誤差用微米表示。
成像誤差。成像誤差EO的檢測(cè)應(yīng)當(dāng)包括視場(chǎng)的全部有效區(qū)域；成像誤差EO不應(yīng)超過(guò)其最大允許誤差，成像誤差和其最大允許誤差用微米表示。
影像分辨力應(yīng)滿足說(shuō)明書(shū)規(guī)格中給出的指標(biāo)。
3、測(cè)量系統(tǒng)配置
對(duì)于給定的最大允許誤差，影像系統(tǒng)配置(放大倍數(shù)、變焦水平、照明、物鏡等)的限制條件：
——驗(yàn)收檢測(cè)由制造商規(guī)定；
——復(fù)檢檢測(cè)由用戶規(guī)定。
用戶可在限定的范圍內(nèi)隨意選擇探測(cè)系統(tǒng)的配置。
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