光學(xué)投影儀的測(cè)量方法
時(shí)間:2014-09-03 09:08:36 來源:本站 作者:admin
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光學(xué)投影儀的測(cè)量方法
研究光學(xué)投影儀測(cè)量方法的目的在于不同的時(shí)間、不同的地點(diǎn)、不同的測(cè)量者有統(tǒng)一的測(cè)量依據(jù)，以達(dá)到不同情況下實(shí)際測(cè)量更接近標(biāo)準(zhǔn)
一、影響因素
1、測(cè)量主體：人(操作者)
同一個(gè)測(cè)量者在不同的時(shí)間測(cè)量的效果會(huì)有差異，測(cè)量受不同時(shí)間的環(huán)境、溫度、光線以及操作者的疲勞度等因素影響有所差異。
不同操作者在同一時(shí)間、同一地點(diǎn)測(cè)量效果也會(huì)不同。受人的視力水平、感官靈敏度等因素也會(huì)有所不同。
上述情況下的人為誤差一般在0.01mm以內(nèi)，如果超出此范圍，則可能是由于機(jī)器本身有較大誤差以及測(cè)量方法有較大差異甚至錯(cuò)誤。
2、測(cè)量設(shè)備：機(jī)(投影儀)
投影儀在測(cè)量過程中最大影響因素是磨損，間隙會(huì)因長(zhǎng)期磨損加大。
當(dāng)間隙大時(shí)(假設(shè)間隙為A)，起初搖桿向左測(cè)量，之后向右搖動(dòng)位置1搖到2過程中，載物臺(tái)并沒有移動(dòng)，但顯示屏已經(jīng)紀(jì)錄移動(dòng)了數(shù)據(jù)(此數(shù)為A)。
遇到移動(dòng)位置過多情況，應(yīng)至少拉到測(cè)量位置附近20條左右消除間隙誤差。
3、投影儀工具：具(治具)
治具本身的缺陷影響:
a、治具尺寸精確度，如 平面度、尺寸公差等，所以要求每3個(gè)月校驗(yàn)一次；
b、治具結(jié)構(gòu)——不能符合測(cè)量要求，如測(cè)量SMT平坦時(shí)治具沒有與SMT腳平齊。
二、測(cè)量方法
1、搖桿搖法
a、搖桿搖法——正確方法
b、搖桿搖法——錯(cuò)誤方法
c、搖桿搖法——錯(cuò)誤糾正
2、坐標(biāo)線對(duì)法
a、坐標(biāo)線對(duì)法——錯(cuò)誤方法
b、坐標(biāo)線對(duì)法——正確方法
原則：同一次測(cè)量的兩次對(duì)齊應(yīng)保持以線的同一邊為基準(zhǔn)。（網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載，億輝光電分享）
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