近幾年，隨產(chǎn)工業(yè)生產(chǎn)要求日益提高，產(chǎn)品的平面度要求也日益提高，如手機(jī)配件行業(yè)、汽車配件行業(yè)，電子行業(yè)等，那什么是平面度呢，如何測量產(chǎn)品的平面度呢，億輝光電通過大量學(xué)習(xí)跟你分享如下：平面度誤差是指被測實際表面對其理想平面的變動量。 

 

    平面度誤差是將被測實際表面與理想平面進(jìn)行比較，兩者之間的線值距離即為平面度誤差值；或通過測量實際表面上若干點(diǎn)的相對高度差，再換算以線值表示的平面度誤差值。 

 

平面度誤差測量的常用方法有如下幾種： 

 

    激光平面度測量法：這個方法是現(xiàn)在用在高精度工件測量方面的最佳方法，通過取點(diǎn)或排面完成平面度的測量。

 

    探針平面度測量方法：通過探針對高精度工件的平面度進(jìn)行測量，精度要求越高，需要求打的點(diǎn)會越多，具體看產(chǎn)品的要求。

    

    非接觸式影像平面度測量方法：通過取點(diǎn)對平面度進(jìn)行測量，相比激光測量及探針測量方法，影像測量精度會低些，如對平面度要求不是太高的企業(yè)也可以選擇，設(shè)備的價格相對便宜。

 

    平晶干涉法：用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面，直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。主要用于測量小平面，如量規(guī)的工作面和千分尺測頭測量面的平面度誤差。 

 

    打表測量法：打表測量法是將被測零件和測微計放在標(biāo)準(zhǔn)平板上，以標(biāo)準(zhǔn)平板作為測量基準(zhǔn)面，用測微計沿實際表面逐點(diǎn)或沿幾條直線方向進(jìn)行測量。打表測量法按評定基準(zhǔn)面分為三點(diǎn)法和對角線法：三點(diǎn)法是用被測實際表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)所決定的理想平面作為評定基準(zhǔn)面，實測時先將被測實際表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)調(diào)整到與標(biāo)準(zhǔn)平板等高；對角線法實測時先將實際表面上的四個角點(diǎn)按對角線調(diào)整到兩兩等高。然后用測微計進(jìn)行測量，測微計在整個實際表面上測得的最大變動量即為該實際表面的平面度誤差。 

 

    激光平面度測量法：這個方法是現(xiàn)在用在高精度工件測量方面的最佳方法，通過取點(diǎn)或排面完成平面度的測量。

 

    探針平面度測量方法：通過探針對高精度工件的平面度進(jìn)行測量，精度要求越高，需要求打的點(diǎn)會越多，具體看產(chǎn)品的要求。

 

    當(dāng)然測量平面度不只有這幾種方法，如有“液平面法”、“光束平面法”等，企業(yè)可以根據(jù)產(chǎn)品的測量需求選擇最優(yōu)的測量方法。以上是億輝光電為您總結(jié)分享。